Дифракцией света называют явление отклонения света от прямолинейного пути в случае, когда световая волна встречает на своем пути препятствие или щель, соизмеримых с длиной волны.
Описание дифракционной картины возможно с учетом интерференции вторичных волн.
Принцип Гюйгенса – Френеля: Каждая точка волновой поверхности, которой достигла в данный момент волна, является центром элементарных (вторичных) сферических волн, их внешняя огибающая будет новой волновой поверхностью в последующий момент. Вторичные волны, являясь когерентными интерферируют.
Явление дифракции используют для определения длины световой волны с помощью дифракционной решетки.
Дифракционная решетка — оптическое устройство, представляющее собой совокупность большого числа параллельных, обычно равноотстоящих друг от друга, щелей (прозрачная пластинка с рядом непрозрачных промежутков в виде штрихов). Суммарную ширину щели a и промежутка b между щелями называют постоянной или периодом дифракционной решетки: d=а+b.
Рентгеноструктурный анализ – метод определения структуры вещества путем исследования закономерностей дифракции рентгеновского излучения на изучаемых образцах (на атомах кристаллической решетки). Если на кристаллическую решетку направить поток рентгеновских лучей под некоторым углом θ, то они будут дифрагировать, так как расстояние между атомами в кристалле соответствует длине волны рентгеновского излучения. Если на некотором расстоянии от кристалла поместить фотопластинку, то она зарегистрирует интерференцию отраженных лучей.
Если вещество представляет собой монокристалл, то дифракционная картина представляет собой чередование темных (засвеченных) и светлых (незасвеченных) пятен. Если вещество представляет собой смесь большого числа очень маленьких кристалликов (как в металле или порошке), возникает серия колец.
